聯繫我們可靠性本徵設計
INNO 基於器件應用電壓進行規格定義，最後通過可靠性設計餘量來保障。
Gate 可靠性設計能力
Drain 可靠性設計能力
壽命模型
INNO 基於業內最保守的模型 E-Model 來進行模型建立和壽命推導來保障可靠性壽命。
Gate 壽命模型
Drain 壽命模型
確認刪除
可靠性本徵設計以及壽命模型以及FIT
Gate 可靠性設計能力
Drain 可靠性設計能力
Gate 壽命模型
Drain 壽命模型
英諾賽科在全球 GaN 出貨量與可靠性數據規模方面居於領先地位
以超過 7.6 億等效器件運行小時的數據基礎，驗證了其產品在高電壓與高温環境下的長期穩定性與超低失效率。
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