為持久而生 重新定義安全與可靠 

在極端環境下依然安全如一

為了確保產品的長期可靠性與穩健性(Robustness),我們從設計階段即進入高標準的保護機制與壽命模型驗證,通過嚴格的擊穿電壓設計與驗證確保器件符合安全的壽命需求。

動態可靠性測試

涵蓋動態導通電阻,電流與電壓測試,全面模擬真實應用環境。

抗瞬態衝擊能力測試

採用UIS (Surge Switching) 測試,驗證產品在極端環境下的穩健性。

高功率與熱可靠性測試

第一類和第二類短路測試、重複短路測試及安全工作區分析。包括第一類、第二類短路測試以及重複短路測試確保高應用壓力下的安全與穩定。

  • 可靠性本徵設計以及壽命模型以及FIT
    通過本徵設計,建立壽命模型並計算FIT值,以評估器件長期可靠性。
  • 可靠性認證
    氮化鎵半導體的可靠性認證將確保器件在極端環境下的長期穩定性能。
  • 可靠性加嚴
    通過極限條件測試與失效分析,確保器件在嚴苛環境下的超長壽命表現。
  • 可靠性監測
    通過數據採集與失效預警,確保器件在運行中的長期穩定性和性能一致性。
開啓新的氮化鎵應用
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