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晶圓
相關
INNO可靠性實驗室
覆蓋晶圓級以及封裝級等強大的可靠性能力
封裝級在可靠性認證上涵蓋了器件，環境，DHTOL相關可靠性的能力。
功能
晶圓相關可靠性
Description
可靠性Item
Device hour
or Sample
or Sample
晶圓級老化
BVD/TDDB/ BVG/TDSB
More than 1,200,000 ea
Description
可靠性Item
Device hour or Sample
晶圓級老化
BVD/TDDB/ BVG/TDSB
More than 1,200,000 ea
功能
器件相關可靠性
Description
可靠性Item
Device hour
or Sample
or Sample
高温柵偏老化
HTGB
42,659,088
高温反偏老化
HTRB
36,851,952
低温柵偏老化
LTGB
7,360,584
低温反偏老化
LTRB
3,823,680
環境相關可靠性
Description
可靠性Item
Device hour
or Sample
or Sample
高温高濕偏壓老化
THB(H3TRB)
26,138,784
高加速應力老化
HAST
5,203,584
快速温變老化
TC
48,136,450
高低温衝擊老化
TS
1,674,288
間歇開關老化
IOL
1,123,000
高温存儲老化
HTS
5,750,640
低温存儲老化
LTS
1,471,176
系統相關可靠性 (DHTOL)
Description
可靠性Item
Device hour
or Sample
or Sample
大功率電源模塊老化
Buck/Boost/QR/ LLC/Always on
More than 5,000 sets （DHTOL calculate the system sets）
硬開關/軟開關老化
H橋
More than 5,000 sets （DHTOL calculate the system sets）
輔助設備
Description
可靠性Item
Device hour
or Sample
or Sample
迴流焊接機台
Reflow
Support tool not calculate device hour
超聲波掃描機
CSAM
Support tool not calculate device hour
X射線探傷檢測機
X-RAY
Support tool not calculate device hour
Description
可靠性Item
Device hour or Sample
高温柵偏老化
HTGB
42,659,088
高温反偏老化
HTRB
36,851,952
低温柵偏老化
LTGB
7,360,584
低温反偏老化
LTRB
3,823,680
Description
可靠性Item
Device hour or Sample
高温高濕偏壓老化
THB(H3TRB)
26,138,784
高加速應力老化
HAST
5,203,584
快速温變老化
TC
48,136,450
高低温衝擊老化
TS
1,674,288
間歇開關老化
IOL
1,123,000
高温存儲老化
HTS
5,750,640
低温存儲老化
LTS
1,471,176
Description
可靠性Item
Device hour or Sample
大功率電源模塊老化
Buck/Boost/QR/ LLC/Always on
More than 5,000 sets （DHTOL calculate the system sets）
硬開關/軟開關老化
H橋
More than 5,000 sets （DHTOL calculate the system sets）
Description
可靠性Item
Device hour or Sample
迴流焊接機台
Reflow
Support tool not calculate device hour
超聲波掃描機
CSAM
Support tool not calculate device hour
X射線探傷檢測機
X-RAY
Support tool not calculate device hour
嚴苛
驗證氮化鎵半導體
在極限工況下的穩定性
在極限工況下的穩定性
大樣本測試
每批次大規模樣本分析
確保統計顯著性
確保統計顯著性
大測試量
高頻次檢測
完成海量數據採集和驗證
完成海量數據採集和驗證
建立模型
用檢測數據訓練
工藝改進的可靠性模型
工藝改進的可靠性模型
