为持久而生 重新定义安全与可靠 

在极端环境下依然安全如一

为了确保产品的长期可靠性与稳健性(Robustness),我們从设计阶段即进入高标准的保护机制与寿命模型验证,通过严格的击穿电压设计与验证确保器件符合安全的寿命需求。

动态可靠性测试

涵盖动态导通电阻,电流与电压测试,全面模拟真实应用环境。

抗瞬态冲击能力测试

采用UIS (Surge Switching) 测试,验证产品在极端环境下的稳健性。

高功率与热可靠性测试

第一类和第二类短路测试、重复短路测试及安全工作区分析。包括第一类、第二类短路测试以及重复短路测试确保高应用压力下的安全与稳定。

  • 可靠性本征设计以及寿命模型以及FIT
    通过本征设计,建立寿命模型并计算FIT值,以评估器件长期可靠性。
  • 可靠性认证
    氮化镓半导体的可靠性认证将确保器件在极端环境下的长期稳定性能。
  • 可靠性加严
    通过极限条件测试与失效分析,确保器件在严苛环境下的超长寿命表现。
  • 可靠性监测
    通过数据采集与失效预警,确保器件在运行中的长期稳定性和性能一致性。
开启新的氮化镓应用